熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)對(duì)電池組件進(jìn)行檢測(cè)的目的是什么
點(diǎn)擊次數(shù)：2283 更新時(shí)間：2021-04-20
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)是僅對(duì)太陽能薄膜光伏組件試驗(yàn)的設(shè)備，用于確定太陽能薄膜光伏組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，即測(cè)得模擬環(huán)境氣候促使太陽能薄膜光伏組件導(dǎo)致焊料融化和封裝退化。
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)設(shè)備試驗(yàn)原理：
通過控制光源，照射試樣當(dāng)組件中的一個(gè)電池或一組電池被遮光或損壞時(shí)，工作電流超過了該電池或電池組降低了短路電流，在組件中會(huì)發(fā)生熱斑加熱。此時(shí)后影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過熱。
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)的熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測(cè)試驗(yàn)。通過合理的時(shí)間和過程對(duì)太陽電池組件進(jìn)行檢測(cè)，用以表明太陽電池能夠在規(guī)定的條件下長期使用。熱斑檢測(cè)可采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測(cè)，紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù)，以可見熱圖顯示被測(cè)目標(biāo)溫度及其分布。
被測(cè)物品隱裂形成原因及檢測(cè)方法：
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋，電池片的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大，有可能導(dǎo)致開路性破壞，隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂。光伏組件在出廠前會(huì)進(jìn)行EL成像檢測(cè)，所使用的儀器為EL檢測(cè)儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用高分辨率的相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。檢測(cè)儀能夠檢測(cè)太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
